-IR,SEM,TEM 📆تاریخ : 28مهر1402 🕕زمان: ۱۰-۱۲ ۱۳-۱۵ ✴️ ویژه دانشجویان 📌📌📌ظرفیت محدود 🗂سرفصل‌های دوره: 🔹 مفهوم مشخصه یابی ساختاری و اهمیت آن در فناوری نانو 🔹انواع روش های مشخصه یابی 🔸 معرفی روش های تصویربرداری SEM,TEM,STEM 🔸 معرفی روش‌های تعیین اندازه ذرات DLS-SAXS 🔹آشنایی با اندازه گیری سطح ویژه و تخلخل BET 🔸و... 🏷دارای گواهی‌نامه معتبر 📌راه‌های ارتباطی با کارشناسان آموزش برای کسب اطلاعات بیشتر و ثبت‌نام دوره: 📞09126519480 📨@khanehnanoedu 🆔http://eitaa.com/lmskhanehnano